深圳市精诚兴仪器仪表有限公司

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x荧光镀层测厚仪样品测试步骤性能特点
点击次数:433 发布时间:2018-03-21
   x荧光镀层测厚仪样品测试步骤性能特点
  
  x荧光镀层测厚仪样品测试步骤
  
  1)每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”:
  
  用户使用“Administrator”,密码:
  
  2)进入测试软件后,选择“测试条件”
  
  点击“确定”,即测试条件确定(仪器已设置好)
  
  3)选择“工作曲线”
  
  如待测样品是铁镀镍,则选择Ni-Fe;其他依次类推
  
  4)放入“Ag片”对仪器进行初始化
  
  初始化完成后,(峰通道为1105,计数率达到一定的数,如300以上)。
  
  5)待测样品测试
  
  放入待测的样品,通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况,以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标(也称十字光标)来定位该聚焦点,将样品放在聚焦点位置。点击“开始”,输入样品名称后“确定”。
  
  6)测试完成后即可保持报告,报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。
  
  x荧光镀层测厚仪性能特点
  
  1.长效稳定X铜光管;
  
  2.半导体硅片电制冷探测器,摒弃元素识别能力较弱的计数盒;
  
  3.内置天瑞仪器研发部研发的—信噪比增强器(SNE)与MCA多道分析器;
  
  4.内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品;
  
  5.脉冲处理器,数据处理快速准确;
  
  6.手动开关样品腔,操作安全方便;
  
  7.三重安全保护模式;
  
  8.整体钢架结构、外型简洁;
  
  9.FP软件,无标准样品时亦可测量。
  
  
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